[:fr]SINATRA – Surface INterface plATefoRme Analyse[:en]SINATRA – Surface INterface plATfoRm Analysis[:es]SINATRA – Surface INterface plATefoRme Analyse[:]

[:fr]
Description

Analyse et caractérisation spectroscopique et microscopique multi-échelles des surfaces et interfaces / Analyse spectroscopique de surface : détection des éléments chimiques,
détermination des environnements chimiques locaux (spéciation), analyse quantitative

  • Cartographie chimique des éléments d’une surface
  • Analyse Morphologique d’une Surface / Mesure de rugosité et de propriétés mécaniques de surface
  • Structure électronique des Matériaux
  • Transferts et Analyses des échantillons en atmosphère contrôlée / Analyses à froid (échantillons gelés Tp° N2)
  • Résolution latérale (vs type d’analyse et équipement sollicité) : 10 nm à 700 μm
  • Résolution en profondeur : 1 nm à 10 nm
  • Analyse de coupes transverses (Cross Polisher / FIB) par faisceaux d’ions

Compétences

Sciences de l’ingénieur, géosciences, sciences des matériaux

Moyens disponibles

Technologiques :

  • Spectroscopie Photoélectronique à Rayonnement X (3) : KRATOS, Thermo K Alpha, Thermo Escalab
  • Spectroscopie Auger (Jeol) haute résolution spatiale – Microscopie électronique
  • TOF-SIMS Phi Electronics TRIFT 5 – FIB intégré
  • AFM/STM Bruker
  • Cross Polisher
  • 3 boîtes à gants ultra pures

XPS Kratos

ToF-SIMS Phi Electronics

Domaines d’applications

  • Energie (conversion et stockage)
  • Matériaux pour le transport
  • Corrosion
  • Nanomatériaux
  • Contrôle et Analyse Traitement de Surface
  • Matériaux polymères et composites
  • Interfaces solide/solide

Types de partenariats

  • Mise à disposition des instrumentations
  • Contrat de collaboration R&D
  • Prestations de service

Réservation à la ½ journée après validation du responsable de l’instrument puis validation du responsable scientifique du plateau

Accès Recherche académique : sous la responsabilité du responsable scientifique de l’étude en accord avec le responsable du plateau

Accès Recherche – industrielle / Prestations : après étude de la faisabilité et du coût associé par le responsable du plateau et du responsable technique de l’équipement

Mots-clés

  • Surface / Interface
  • Métrologie
  • Analyse spectroscopique et microscopique non destructive

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Contact

Hervé MARTINEZ
Professeur des Universités
Responsable Scientifique plateforme
+33 (0)5 59 40 75 99
+33 (0)6 85 52 85 61
herve.martinez@univ-pau.fr

[:en]
Description

Multiscale spectroscopic and microscopic analysis and characterization of surfaces and interfaces / Surface spectroscopic analysis: detection of chemical elements, determination of local chemical environments (speciation), quantitative analysis.

  • Chemical imaging of the elements of a surface
  • Morphological analysis of a surface / Measurement of surface roughness and mechanical properties
  • Electronic structure of materials
  • Sample transfers and analyses in a controlled atmosphere / Cold analyses (frozen samples Tp° N2)
  • Lateral resolution (vs. type of analysis and equipment used): 10 nm to 700 μm
  • Depth resolution: 1 nm to 10 nm
  • Ion-beam analysis of cross-sections (Cross Polisher / FIB)

Competencies

Engineering sciences, geosciences, material sciences

Available resources

Technological:

  • X-ray photoelectron spectroscopy (3): KRATOS, Thermo K Alpha, Thermo Escalab
  • High spatial resolution Auger electron spectroscopy (Jeol) – Electron microscopy
  • Phi Electronics TOF-SIMS TRIFT 5 – Integrated FIB
  • Bruker AFM/STM
  • Cross Polisher
  • Three ultra-pure gloveboxes

Fields of application

  • Energy (conversion and storage)
  • Materials for transportation
  • Corrosion
  • Nanomaterials
  • Surface treatment inspection and analysis
  • Polymer and composite materials
  • Solid/solid interfaces

Types of partnerships

  • Provision of instrumentation
  • R&D partnership agreement
  • Services

Half-day bookings after the instrument manager and the access platform scientific manager have given their approval

Academic research: under the responsibility of the scientific manager of the study in agreement with the access platform manager

Research – Industrial / Services: after the platform manager and equipment technical manager have studied feasibility and the associated costs

Keywords

  • Surface / Interface
  • Metrology
  • Nondestructive spectroscopic and microscopic analysis

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Contact

Hervé MARTINEZ
University professor
Scientific Manager of the platform
+33 (0)5 59 40 75 99
+33 (0)6 85 52 85 61
herve.martinez@univ-pau.fr

[:es]
Descripción

Análisis y caracterización espectroscópica y microscópica multiescala de superficies e interfaces, y análisis espectroscópico de superficie: detección de elementos químicos, determinación de los entornos químicos locales (especiación), análisis cuantitativo.

  • Cartografía químicas de los elementos de una superficie
  • Análisis morfológico de una superficie, medición de la rugosidad y propiedades mecánicas de la superficie
  • Estructura electrónica de los materiales
  • Transferencia y análisis de muestras en atmósfera controlada, análisis en frío (muestras congeladas Tp° N2)
  • Resolución lateral (vs tipo de análisis y equipo necesario): 10 nm a 700 μm
  • Resolución de profundidad: 1 nm a 10 nm
  • Análisis de cortes transversales (Cross Polisher / FIB) por haz de iones

Competencias

Ingeniería, geociencias, ciencia de los materiales

Recursos disponibles

Tecnológicos:

  • Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (3): KRATOS, Thermo K Alpha, Thermo Escalab
  • Espectroscopia Auger (Jeol) de alta resolución espacial – Microscopía electrónica
  • TOF-SIMS Phi Electronics TRIFT 5 – FIB integrado
  • AFM/STM Bruker
  • Cross Polisher
  • 3 cajas de guantes ultrapuros

Ámbitos de aplicación

  • Energía (conversión y almacenamiento)
  • Materiales para el transporte
  • Corrosión
  • Nanomateriales
  • Control y análisis de los tratamientos superficiales
  • Materiales de polímeros y compuestos
  • Interfaces sólido/sólido

Tipos de colaboraciones

  • Puesta a disposición de instrumental
  • Convenio de colaboración en I+D
  • Prestación de servicios

Reservas de media jornada previa validación por parte del responsable del instrumento y del responsable científico de la división de acceso

Investigación académica: bajo la tutela del responsable científico del estudio de acuerdo con el responsable de la división de acceso

Investigación – industrial / servicios: tras el correspondiente estudio de viabilidad y de costes por parte del responsable de la división y del responsable técnico del equipo

Palabras clave

  • Superficie / interfaz
  • Metrología
  • Análisis espectroscópico y microscópico no destructivo

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Contacto

Hervé MARTINEZ
Profesor de universidades
Responsable científico plataforma
+33 (0)5 59 40 75 99
+33 (0)6 85 52 85 61
herve.martinez@univ-pau.fr

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