SINATRA – Surface INterface plATefoRme Analyse

Description

Analyse et caractérisation spectroscopique et microscopique multi-échelles des surfaces et interfaces / Analyse spectroscopique de surface : détection des éléments chimiques,
détermination des environnements chimiques locaux (spéciation), analyse quantitative

  • Cartographie chimique des éléments d’une surface
  • Analyse Morphologique d’une Surface / Mesure de rugosité et de propriétés mécaniques de surface
  • Structure électronique des Matériaux
  • Transferts et Analyses des échantillons en atmosphère contrôlée / Analyses à froid (échantillons gelés Tp° N2)
  • Résolution latérale (vs type d’analyse et équipement sollicité) : 10 nm à 700 μm
  • Résolution en profondeur : 1 nm à 10 nm
  • Analyse de coupes transverses (Cross Polisher / FIB) par faisceaux d’ions

Compétences

Sciences de l’ingénieur, géosciences, sciences des matériaux

Moyens disponibles

Technologiques :

  • Spectroscopie Photoélectronique à Rayonnement X (3) : KRATOS, Thermo K Alpha, Thermo Escalab
  • Spectroscopie Auger (Jeol) haute résolution spatiale – Microscopie électronique
  • TOF-SIMS Phi Electronics TRIFT 5 – FIB intégré
  • AFM/STM Bruker
  • Cross Polisher
  • 3 boîtes à gants ultra pures

XPS Kratos

ToF-SIMS Phi Electronics

Domaines d’applications

  • Energie (conversion et stockage)
  • Matériaux pour le transport
  • Corrosion
  • Nanomatériaux
  • Contrôle et Analyse Traitement de Surface
  • Matériaux polymères et composites
  • Interfaces solide/solide

Types de partenariats

  • Mise à disposition des instrumentations
  • Contrat de collaboration R&D
  • Prestations de service

Réservation à la ½ journée après validation du responsable de l’instrument puis validation du responsable scientifique du plateau

Accès Recherche académique : sous la responsabilité du responsable scientifique de l’étude en accord avec le responsable du plateau

Accès Recherche – industrielle / Prestations : après étude de la faisabilité et du coût associé par le responsable du plateau et du responsable technique de l’équipement

Mots-clés

  • Surface / Interface
  • Métrologie
  • Analyse spectroscopique et microscopique non destructive

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Contact

Hervé MARTINEZ
Professeur des Universités
Responsable Scientifique plateforme
+33 (0)5 59 40 75 99
+33 (0)6 85 52 85 61
herve.martinez@univ-pau.fr