Hervé MARTINEZ
Professeur des Universités
Responsable Scientifique plateforme
+33 (0)5 59 40 75 99
+33 (0)6 85 52 85 61
herve.martinez@univ-pau.fr
[:fr]SINATRA – Surface INterface plATefoRme Analyse[:en]SINATRA – Surface INterface plATfoRm Analysis[:es]SINATRA – Surface INterface plATefoRme Analyse[:]
Analyse et caractérisation spectroscopique et microscopique multi-échelles des surfaces et interfaces / Analyse spectroscopique de surface : détection des éléments chimiques,
détermination des environnements chimiques locaux (spéciation), analyse quantitative
- Cartographie chimique des éléments d’une surface
- Analyse Morphologique d’une Surface / Mesure de rugosité et de propriétés mécaniques de surface
- Structure électronique des Matériaux
- Transferts et Analyses des échantillons en atmosphère contrôlée / Analyses à froid (échantillons gelés Tp° N2)
- Résolution latérale (vs type d’analyse et équipement sollicité) : 10 nm à 700 μm
- Résolution en profondeur : 1 nm à 10 nm
- Analyse de coupes transverses (Cross Polisher / FIB) par faisceaux d’ions
Sciences de l’ingénieur, géosciences, sciences des matériaux
Technologiques :
- Spectroscopie Photoélectronique à Rayonnement X (3) : KRATOS, Thermo K Alpha, Thermo Escalab
- Spectroscopie Auger (Jeol) haute résolution spatiale – Microscopie électronique
- TOF-SIMS Phi Electronics TRIFT 5 – FIB intégré
- AFM/STM Bruker
- Cross Polisher
- 3 boîtes à gants ultra pures
- Energie (conversion et stockage)
- Matériaux pour le transport
- Corrosion
- Nanomatériaux
- Contrôle et Analyse Traitement de Surface
- Matériaux polymères et composites
- Interfaces solide/solide
- Mise à disposition des instrumentations
- Contrat de collaboration R&D
- Prestations de service
Réservation à la ½ journée après validation du responsable de l’instrument puis validation du responsable scientifique du plateau
Accès Recherche académique : sous la responsabilité du responsable scientifique de l’étude en accord avec le responsable du plateau
Accès Recherche – industrielle / Prestations : après étude de la faisabilité et du coût associé par le responsable du plateau et du responsable technique de l’équipement
- Surface / Interface
- Métrologie
- Analyse spectroscopique et microscopique non destructive
Contact
Multiscale spectroscopic and microscopic analysis and characterization of surfaces and interfaces / Surface spectroscopic analysis: detection of chemical elements, determination of local chemical environments (speciation), quantitative analysis.
- Chemical imaging of the elements of a surface
- Morphological analysis of a surface / Measurement of surface roughness and mechanical properties
- Electronic structure of materials
- Sample transfers and analyses in a controlled atmosphere / Cold analyses (frozen samples Tp° N2)
- Lateral resolution (vs. type of analysis and equipment used): 10 nm to 700 μm
- Depth resolution: 1 nm to 10 nm
- Ion-beam analysis of cross-sections (Cross Polisher / FIB)
Engineering sciences, geosciences, material sciences
Technological:
- X-ray photoelectron spectroscopy (3): KRATOS, Thermo K Alpha, Thermo Escalab
- High spatial resolution Auger electron spectroscopy (Jeol) – Electron microscopy
- Phi Electronics TOF-SIMS TRIFT 5 – Integrated FIB
- Bruker AFM/STM
- Cross Polisher
- Three ultra-pure gloveboxes
- Energy (conversion and storage)
- Materials for transportation
- Corrosion
- Nanomaterials
- Surface treatment inspection and analysis
- Polymer and composite materials
- Solid/solid interfaces
- Provision of instrumentation
- R&D partnership agreement
- Services
Half-day bookings after the instrument manager and the access platform scientific manager have given their approval
Academic research: under the responsibility of the scientific manager of the study in agreement with the access platform manager
Research – Industrial / Services: after the platform manager and equipment technical manager have studied feasibility and the associated costs
- Surface / Interface
- Metrology
- Nondestructive spectroscopic and microscopic analysis
Contact
Hervé MARTINEZ
University professor
Scientific Manager of the platform
+33 (0)5 59 40 75 99
+33 (0)6 85 52 85 61
herve.martinez@univ-pau.fr
Análisis y caracterización espectroscópica y microscópica multiescala de superficies e interfaces, y análisis espectroscópico de superficie: detección de elementos químicos, determinación de los entornos químicos locales (especiación), análisis cuantitativo.
- Cartografía químicas de los elementos de una superficie
- Análisis morfológico de una superficie, medición de la rugosidad y propiedades mecánicas de la superficie
- Estructura electrónica de los materiales
- Transferencia y análisis de muestras en atmósfera controlada, análisis en frío (muestras congeladas Tp° N2)
- Resolución lateral (vs tipo de análisis y equipo necesario): 10 nm a 700 μm
- Resolución de profundidad: 1 nm a 10 nm
- Análisis de cortes transversales (Cross Polisher / FIB) por haz de iones
Ingeniería, geociencias, ciencia de los materiales
Tecnológicos:
- Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (3): KRATOS, Thermo K Alpha, Thermo Escalab
- Espectroscopia Auger (Jeol) de alta resolución espacial – Microscopía electrónica
- TOF-SIMS Phi Electronics TRIFT 5 – FIB integrado
- AFM/STM Bruker
- Cross Polisher
- 3 cajas de guantes ultrapuros
- Energía (conversión y almacenamiento)
- Materiales para el transporte
- Corrosión
- Nanomateriales
- Control y análisis de los tratamientos superficiales
- Materiales de polímeros y compuestos
- Interfaces sólido/sólido
- Puesta a disposición de instrumental
- Convenio de colaboración en I+D
- Prestación de servicios
Reservas de media jornada previa validación por parte del responsable del instrumento y del responsable científico de la división de acceso
Investigación académica: bajo la tutela del responsable científico del estudio de acuerdo con el responsable de la división de acceso
Investigación – industrial / servicios: tras el correspondiente estudio de viabilidad y de costes por parte del responsable de la división y del responsable técnico del equipo
- Superficie / interfaz
- Metrología
- Análisis espectroscópico y microscópico no destructivo
Contacto
Hervé MARTINEZ
Profesor de universidades
Responsable científico plataforma
+33 (0)5 59 40 75 99
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